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唇系带附着异常
出生时唇系带附着于牙槽嵴顶,唇系带中的纤维组织伸入腭侧龈乳突,随着乳牙萌出牙槽突的生长,唇系带附着的位置逐渐上移,到恒切牙替换后唇系带一般距龈缘约4-5mm。异常的唇系带为粗大的、无弹力的纤维带,位于上中切牙之间与腭乳头相连。原因多系遗传因素或先天发育异常所致。
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上中切牙旋转、外翻
由于上中切牙牙胚的位置异常,萌出后旋转、外翻,侧切牙萌出时常向近中移动,旋转的上切牙近中舌侧边缘嵴可妨碍下颌向前调整,也可能使下切牙舌向错位。当X线牙片显示上中切牙牙根已发育2/3以上或基本发育完成时应尽早矫治外翻的上中切牙,使之回到牙弓中正确的位置上。注意片段弓的未端不能刺激口唇及粘膜。
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Steiner分析法
1953年Steiner提出了一个具有14项测量内容的头影测量分析法,其中一些测量内容是以往已提出的Downs、Riedel等分析法中择优而集成,这一分析法也较为广泛应用于口腔正畸临床诊断及设计分析。6)1〖TXX-〗-NA(mm):上中切牙切缘至NA连线的垂直距离。7)1〖TX-〗-NB角:下中切牙切缘与NB连线的交角。代表合平面的斜度。
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Downs分析法
(2)牙合与骨骼间关系的测量:包括合平面角、上下中切牙角、下中切牙平面角、下中牙下颌平面角及上中切牙凸距等5项测量。北京医科大学口腔医学院傅民魁于1965年研究得出了北京地区正常合,替牙期、恒牙初期、恒牙期个体的Downs分析法10项测量的均值、标准差及多角形图,以作为临床上X线头影测量的诊断分析参考。
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X线头影测量分析
X线头影测量(Cephalometrics),主要是测量X线头颅定位照像所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。下唇突点(LL):下唇之最突点。(7)上下中切牙角:上中切牙长轴与下中切牙长轴的交角。